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TH2828 元器件LCR測試儀 高精度電橋
性能特點
■ 阻抗測量范圍*寬的自動平衡電橋技術
■ 四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合
■ 基本準確度0.05%
■ 高達1MHz的測量頻率范圍
■ 交流測試信號可編程至20V(選件)
■ 高達30次/秒的測量速度
■ 六位讀數分辨率
■ 可測量22種阻抗參數組合
■ 30 Ω, 100 Ω可選信號源輸出阻抗
■ 10點列表掃描測試功能
■ 內部可編程直流偏置±40V/100mA(選件)
■ 外置偏流源至40A
■ 電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
■ V、I測試信號電平監視功能
■ 20組內部儀器設定可供儲存/讀取
■ 內建比較器,10檔分選及計數功能
■ RS232C,GPIB,HANDLER接口
■ 2m/4m測試電纜擴展(選件)
■ USB接口供數據外存
■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示
■ 中英文可選操作界面
簡要介紹
■ TH2828/TH2828A/TH2828S是采用當前自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀器向下擴展了十倍。
■ TH2828/TH2828A/TH2828S 1MHz同惠精密LCR數字電橋：廣泛的測量對象:
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
■ TH2828/TH2828A/TH2828S是采用當前自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規五端配置的儀器向下擴展了十倍。TH2828/TH2828A/TH2828S是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試的強有力工具。它的優良性能和功能為電路的設計和開發以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發提供了強有力的工具。TH2828/TH2828A/TH2828S以其**的性能可以實現商業標準和**標準如IEC和MIL標準的各種測試。
技術參數
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測試參數 |
|Z|,|Y|,C,L,X,B,R,G,D,Q,θ,ESR,Rp |
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測試頻率 |
TH2828 |
20Hz-1MHz,6000多個頻點 |
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測試電平范圍 |
正常：5mV-2V,恒電平：10mV-1V,1mV 步進 |
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輸出阻抗 |
30Ω，100Ω可選 |
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基本準確度 |
TH2828 |
0.05% |
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|Z|,R,X |
0.00001Ω-99.9999MΩ |
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|Y|,G,B |
0.00001μS-99.9999S |
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C |
0.00001pF-9.99999F |
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L |
0.00001μH-99.9999kH |
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顯示范圍 |
D |
0.00001-9.99999 |
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Q |
0.01-99999.9 |
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θ(DEG) |
-179.999°-179.999° |
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θ(RAD) |
-3.14159-3.14159 |
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△% |
-999.999%-999.999% |
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測量時間（≥1kHz） |
快速：32ms, 中速：90ms, 慢速：650ms |
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等效電路 |
串聯，并聯 |
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量程方式 |
自動，保持 |
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觸發方式 |
內部，手動，外部,總線 |
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平均次數 |
1-255 |
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清零功能 |
開路，短路，掃頻清零，負載 |
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內部直流偏置源 |
0V,1.5V,2V |
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比較器功能 |
10檔分選和檔計數功能 |
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存儲器 |
可保存20組儀器設定值 |
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接口 |
RS-232C,HANDLER(選件)，USB(選件)，GPIB(選件) |
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